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太阳光模拟器测量光谱致合度的方法有哪些?

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  你知道要如何量测太阳光模拟器的光谱致合度吗?在量测光谱致合度前,我们需要确认模拟器可适用于光谱匹配测量任务,并且确保模拟器的灵敏度适合于所要量测的波长范围。
  
  若使用脉冲式模拟器,需要注意许多事项,包含:
  
  1、光谱仪的积分时间应适合模拟器的脉冲长度。
  
  2、模拟器的光谱可能会在光脉冲期间发生变化。
  
  3、在光谱偏移的情况下,辐照度监视器和待测样品之间光谱响应度的差异将会引入光谱失配误差。
  
  4、积分时间应小于脉冲长度的一半。
  
  另外,根据IEC60904-9的说明,可能决定光谱辐照度测量质量的特性参数包含:波长分辨率、光谱辐射计、杂散光或二阶波长效应、输入光学器件的角度响应。
  

太阳光模拟器

 

  除了特性参数,量测太阳光模拟器的光谱致合度也有许多可用的测量技术。根据IEC60904-9的说明,以下特性参数可能决定光谱辐照度测量的质量:
  
  波长分辨率:光谱仪的波长分辨率在可见光范围(300nm至900nm)内应等于或优于5nm,在近红外范围内(900nm至1200nm)应等于或优于10nm。(注意:波长分辨率是分光辐射计分离两条靠近的光谱线的能力的量度)
  
  光谱辐射计通常在低辐照度水平下使用钨校准灯进行校准。然而,太阳模拟器的光谱强度可能与校准条件有很大不同。
  
  欲量测太阳光模拟器的光谱致合度有许多可用的测量技术。然而,CCD光谱辐射计技术由于其紧凑的尺寸和出色的光谱性能而成为常见的技术。
  
  使用CCD光谱仪进行光谱辐照度测量通常需要使用两台仪器来涵盖完整的波长范围(例如:分别使用Si和InGaAs检测器)。SiCCD通常覆盖300-1100nm,InGaAsCCD可以覆盖900-1700nm。
  
  结合这两种仪器和适当的余弦校正光学器件,可以适当地测量太阳光模拟器的光谱分布。

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